NI半导体测试巡回研讨会 会议介绍 在物联网,毫米波,硅光子,人工智能等技术的推动下,国家大力发展半导体产业,中国半导体行业正迎来新一轮发展机遇。而在这些新技术在攻坚突破的同时,全行业也努力满足对芯片更高性能、更小尺寸、更低成本等要求,这些无一不让从业者面临着更严峻的技术和市场,产业人才也需和业界良好对接。 芯片测试作为半导体行业关键一环,我们将深入探讨如何在实验室V&V验证、晶圆及封装测试中进一步降低成本提高上市时间,针对于RFIC、ADC\PMIC\MEMS等混合信号芯片、光电等芯片探讨如何通过PXI平台化方法降低从实验室到量产测试成本、提高测试效率等话题,共建良好半导体测试生态体系。 北京站 – 会议信息 v 日期:2018年7月26日 v 时间:14:00-17:30 v 地点:北京丽亭华苑,金辉厅 北京站 – 专题概要 v 从实验室测试台到量产ATE,NI平台化方法突围半导体测试市场 芯片复杂度和集成度在近年逐渐攀升,高集成度芯片让测试项目变得更加复杂,SiP等新封装形式也需要用新的测试手段来应对。针对不论是实验室V&V,到晶圆级测试,再到封装测试,平台化测试系统方法开启了全新思路。本议题讲讨论如何通过平台化方法降低测试成本,提升效率,让芯片测试不再困难。 v RFIC射频前端及毫米波IC测试技术 现代的射频前端模块越来越多地将更多模块(如功率放大器,低噪声放大器(LNA),双工器和天线开关)封装到单个组件中。而前端模块对多模多频段的支持也增加了整个测试的复杂性。NI提供从射频前端模块测试,分立射频元件,射频收发机到射频MCU的领先RFIC测试解决方案。基于模块化平台设计,NI RFIC解决方案能轻松实现从实验室特征分析到量产测试的快速转换,大幅减少测试时间和成本。另外,NI自早期的5G原型探索设计以来深度参与合作的NI 继续为商用化5G芯片保驾护航,从已经sub-6GHz到毫米波,我们也将同时深入探讨5G NR测试关键技术,包括sub-6GHz 射频前端测试技巧,毫米波OTA、波束成形测试等。 v 高精度、高速ADC/DAC关键测试技术 高精度、高速数据转换芯片测试对于测试仪器的成本居高不下,价格昂贵的信号源和测试时间一直无法得到有效的平衡。本议题将介绍如何巧用仪器,通过模块化仪器方法将仪器有效整合,通过高精度同步技术及高性能仪器,并在软件上快速实现INL、DNL及动态特性分析,快速实现实验室ADC/DAC芯片搭建。 可以复用SEMICON期间对PDA宣传的材料 v 射频芯片RFIC及毫米波芯片测试方案 v 物联网IoT芯片测试 从蓝牙、NB-IoT到Wifi物联网芯片测试 v NI针对于量产测试环境ATE——NI STS NI STS针对量产测试环境定制,覆盖从WAT、可靠性测试、CP及FT等量产测试 北京站 – 会议日程
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